產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
雙光束激光干涉儀**用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測試。
適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。
半自動的系統(tǒng)用于8"晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關(guān)性能的測試。
大量樣品測試的重復(fù)精度可達2%以上。
詳情介紹：
雙光束激光干涉儀
雙光束激光干涉儀用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測試。
適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。
半自動的系統(tǒng)用于8"晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關(guān)性能的測試。
大量樣品測試的重復(fù)精度可達2%以上。
測試功能：
機電大信號應(yīng)變、極化、壓電系數(shù)、小信號介電常數(shù)。
疲勞和電性及機械性能可靠性。
樣品測試：
極化曲線和位移曲線。
小信號電容及壓電系數(shù)。
技術(shù)參數(shù)：
分辨率： ≤1 pm（X晶向的石英）
測量范圍：5pm- +/- 25nm
波長：632.8nm
位移/應(yīng)力測試：>50Hz，zui小1Hz分辨率，100mV到10V（可選到200V）
壓電d33系數(shù)：
基電壓100mV到10V（1mHz到1Hz），可選到200V
小信號100mV到10V（1kHz到5kHz）
C-V測試：
基電壓100mV到10V（1mHz到1Hz），可選到200V
小信號100mV到10V（1kHz到5kHz）
